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EMI測試
近場(chǎng)探頭 EM5030
EM5030 是一款主(zhu)要用于查(chá)找幹擾源(yuán)，判定幹擾(rao)産生原因(yin)的高性價(jia)比近場探(tàn)頭。可用來(lái)檢測器件(jiàn)表面的磁(cí)場方向以(yǐ)及強🛀度；檢(jiǎn)測磁場耦(ou)合的通道(dào)，從而調整(zheng)連接器位(wei)置；檢測模(mó)塊🍓附近的(de)🔞磁場環境(jìng)。爲了降低(dī)幹擾，尋找(zhao)到真正的(de)幹擾源或(huo)者是其傳(chuán)播的途徑(jìng)🛀是非常有(yǒu)必☔要的，通(tōng)過近場探(tàn)頭測量💚可(ke)以很方便(biàn)🐆地實現定(dìng)位功能。通(tōng)過配合本(běn)公司的EM5020前(qian)置放大器(qi)💛可以提高(gāo)系統測試(shi)靈敏度。大(dà)大的減少(shǎo)産品的研(yan)發周期，減(jian)少往返實(shí)❤️驗室的時(shí)間和金錢(qian)💚69日本xxxxx🔞xxx96㊙️，減少不必(bì)要的錯誤(wu)測試。 EM5030近場(chang)探🚶頭就是(shi)解決問題(tí)的最好利(li)♻️器！
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型(xing)号 |
說(shuō)明 |
特(te)性 |
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磁(ci)場近場探(tan)頭，可檢查(cha)10cm範圍内的(de)磁場。
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磁(cí)場近場探(tan)頭，可檢查(cha)3cm範圍内的(de)磁場。
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磁場近(jin)場探頭，主(zhu)要用于線(xiàn)纜電磁洩(xie)漏測試。
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磁場(chang)近場探頭(tou)，可檢測垂(chui)直方向發(fa)射的電磁(cí)場 。
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